針對硅片和電池廠商以及光伏研發(fā)人員推出了兩個系列的新軟件升級產品
悉尼2014年5月16日電 /美通社/ -- BT imaging 將在2014年5月20日到22日參加于上海舉辦的第八屆 SNEC 國際太陽能產業(yè)及光伏工程展。展位是 E3 大廳225號。BT imaging 此次推出了兩個系列的新軟件升級產品，可用于對線下 PL 檢測設備 LIS-R2 和在線 PL 檢測設備 QS-W2 的可選性升級。LIS-R2 軟件升級著重于給研發(fā)者和工程師迄今為止都無法得到硅片和電池的信息。QS-W2 著重于幫助硅片和電池廠商減少成本和提升電池效率。
“我們一向把每年上海 SNEC 展會當成光伏界重要的事件來對待。我們也很高興 SNEC 展會的時間恰好是我們想發(fā)布我們新產品的時間，”BT imaging 的 CEO Ian Maxwell 說道?！白詮?BT imaging 過去參加了 SNEC 展會，我們一直致力于提升我們現(xiàn)有的產品。我們將要模擬展示的新軟件升級產品是我們多年研發(fā)的積累。我們認為我們的客戶將會對這些新升級軟件非常興奮?！?/p>
除了這些發(fā)布以外，BT imaging 也將會強調介紹現(xiàn)有的兩款穩(wěn)定的產品 LIS-R2 和 QS-W2。產品 LIS-R2 是頂級的線下實驗室測量設備，擅長測量硅錠、硅片、電池和組件。此產品就像多功能瑞士軍刀一樣，集合了多種測量功能于一身并且容易使用。它適合用于研發(fā)、質量檢測、全程質量監(jiān)控、工藝除錯、工藝改良和試運行。產品 QS-W2 是世界頂級的 PL 硅片在線檢測系統(tǒng)。有別于其他產品，QS-W2 是被產品證明為有效的硅片分選和效率預測設備。
如需了解更多 BT imaging 的新產品和服務，歡迎前來參加2014年5月20日到22日第八屆于上海舉辦的 SNEC 國際太陽能產業(yè)及光伏工程展。展位是 E3 大廳225號。獲取更多信息，請到訪 http://www.btimaging.com。
